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Accueil du site > Mesures de transport électronique dans des nanofils supraconducteurs

Ces dernières années, le développement des techniques de nanofabrication ont permis la réalisation de nanofils supraconducteurs dont les diamètres sont inférieurs aux longueurs caractéristiques de la supraconductivité. Il est ainsi possible de mesurer les propriétés de transport de nanofils supraconducteurs 1D ou quasi-1D, loin en dessous de Tc. Mais de nombreux phénomènes hors équilibre de la supraconductivité 1D sont encore mal compris et peu de résultats expérimentaux sont disponibles. Nous présentons ici une technique permettant de poser plusieurs contacts électriques le long d’un nanofil supraconducteur électrodéposé, afin de sonder localement (quelques centaines de nanomètres) ses propriétés électriques. La nature cristalline des nanofils obtenus par croissance électrolytique « bottom-up » en font des candidats essentiels pour la compréhension des mécanismes de la supraconductivité 1D. Des mesures 4-points ont étés réalisées sur différents segments d’un nanofil d’étain de 50 nm de diamètre. Tout d’abord nous montrerons comment l’effet de proximité inverse induit par des électrodes de tension en métal normal perturbe le paramètre d’ordre supraconducteur des segments, en fonction de leur longueur, ce qui nous a permis de mettre en évidence deux régimes différents de relaxation des quasi-particules. Enfin nous observerons la signature de Phase-Slips Centers (PSC) dans des conditions exceptionnelles de basse température (30 mK). Enfin, nous présenterons des mesures de transport réalisées dans des nanofils de nitrure de niobium élaboré par les techniques classiques de fabrication, mais présentant un comportement 1D très intéressant.